工具显微镜自动上样装置和测量投影仪主要区别:(因为投影仪比较常见,所以以下详细介绍工具显微镜自动上样装置的特点及典型应用)

主显微镜自动上样装置配有多种目镜和粅镜视场范围大，成像清晰

主显微镜自动上样装置可左右偏摆适用于螺旋状零件测量

带有反射照明装置，可测量工件表面形状

带有光學定位器和顶针架等多种附件使用范围广

精度高(一般都是在3微米以内)

测量螺丝\冲压件等角度习钻的工件

测量各种成型零件如样板、样板車刀、冲模和凸轮的形状；

测量螺纹塞规、丝杠和蜗杆等外螺纹的中径、大径、小径、螺距、牙型半角；

测量齿轮滚刀的导程、齿形和牙型角；

测量钻模或孔板上孔的位置度，键槽的对称度等形位误差

(二维测量)操作简单\直观

【摘要】一台 OLYMPUS荧光显微镜自动上樣装置自动摄影装置,近日发现其 35mm照相机不能自动卷片,因而无法使用.该机配置为 : BHF型荧光显微镜自动上样装置,PM- 10AD型自动摄影装置机身,PM- CBAD型曝光控制單元,C- 35AD型照相机,其基本工作流程是 : 将样本载玻片放在显微镜自动上样装置载物台上,对好焦距.在自动摄影装置机身上,根据自动色温控制单元所測的色温,调节转轮到最佳位置 (三角形箭头指线即能自动控制照相机的曝光时间,曝光后自动卷片.由于这套装置能自动测光,自动测色温,自动控淛曝光时间,因此任何人都能拍成一张较理想的彩色显微照片.较好地解决了以往难以解决的彩色照片色温调整问题,使摄影变得简单易行 .

1. 一种用于在存储和传输从半导体晶片或数据存储晶片取得的测试样品中使用的晶 片或盘复制品包括： 主体，所述主体的尺寸被设计为至少对应于从其取得测试样品的所述半导体晶片或数 据存储晶片的直径；以及 多个凹部所述多个凹部在所述主体的表面中形成并且被配置为接收从所述半导体晶 片或数据存储晶片取得的所述测试样品中的一个或多个测试样品。

2. 如权利要求1所述的晶片或盘复制品其中所述测试样品是电子显微镜自动上样装置(EM)薄片。