拥有立体、金相显微镜及光学照相采集系统键合强度与剪切力测试仪,颗粒碰撞噪声检测仪(PIND)检漏分析仪,X射線分析仪、 SEM(电子扫描显微镜)、声学扫描显微镜、内部气氛含量分析仪、引出端强度测试仪、可焊性测试仪、塑封开帽机、激光开封机、制样机、切割机、自动磨抛机等设备;分析范围涉及半导体分立器件、集成电路、电子元件、继电器、接插件、光电器件、射频微波器件等各门类元器件;封装形式包括塑封、金属、陶瓷、玻璃等
经过多年发展,积累了大量原始数据建成了包含6万余批次(含塑封器件)的DPA版图数据库、DPA不合格品数据库(含外观、内部目检等)、静电灵敏度试验数据库等。
设备名称:微粒碰撞噪声检测设备(PIND) 生产厂家:囧尔滨工业大学军用电器研究所 分辨率:频率1Hz、时间 |
试验中心经过多年发展技术底蘊深厚。拥有国内外先进的测试设备200余台(套)可满足常用各类元器件测试需求;开发各类电子元器件测试程序30000余种,基本覆盖常用的器件種类;可为用户提供测试、评估、质量保证的成套方案引进国际领先的V93K测试平台,UltraFlex超大规模集成电路测试系统T800集成电路测试系统,能夠满足大规模集成电路的测试需求拥有专业的测试程序开发团队,保证测试程序开发的质量与进度
· 备注:新中心每天都在开发新的器件程序,如有需要请直接拨打我中心电话进行咨询!
主要测试筛选器件类型:
通用数字电路(CMOS 4000系列、54/74系列、80系列);
通用模拟器件(运算放大器、电压比较器、跟随器系列、压控振荡器);
模拟开关与多路复用器;
定时器、时钟发生器与分配器;
数模转换器(A/D、D/A、SRD);
电源類(线性稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等);
驱动器、数码管、压控振荡器;光电类(光电耦合器、图像传感器);
通讯电路系列、电视机和音响电路;
半导体分立器件(二极管、三极管、场效应管等);
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